姓名：李洋

   职称：助理教授

   研究方向：半导体器件与微纳系统的辐照效应、FPGA测试开发

   邮箱：yang.li@xjtu.edu.cn

   个人主页：https://gr.xjtu.edu.cn/yang.li/zh_CN/index.htm

1、个人简介：

李洋，博士，硕导，陕西榆林人。2018年、2024年在西安交通大学分别获得工学学士、工学博士学位，师从贺朝会教授。2022-2024年赴日本京都大学（Kyoto University）电信工程学院开展联合培养，师从Masanori Hashimoto教授（持续合作）。2024年入选西安交通大学“青年优秀人才”A类支持计划，进入微电子学院工作，目前担任助理教授（讲师），博士后合作导师张国和教授。2025年获评“陕西高等学校科学技术研究优秀成果奖”（排名2/9）， 2026年获评西安交通大学优秀博士学位论文。

2、研究领域或方向：

所属西安交通大学“微系统辐射效应与抗辐照加固关键技术”团队（微电子学院张国和教授、核科学技术学院贺朝会教授），主要研究方向：

1）辐照效应和加固设计（半导体器件、电路、微纳系统）

2）测试设计（FPGA程序、PCB电路板以及上位机的设计与测试）

3、正在或曾经承担的科研项目：

纵向科研项目（主持）：

1）国家自然科学基金，青年项目，“三维封装DDR内存微模组质子单粒子效应机理研究”，国家级，在研（2026.01-2028.12）

2）陕西省自然科学基金，青年项目，“瞬时γ辐射对系统级封装（SiP）电源分布网络的影响机制研究”，省部级，在研（2025.01-2026.12）

3）强脉冲辐射环境模拟与效应全国重点实验室基金，“三维封装内存微模组大气中子单粒子效应机理研究”，省部级，在研（2025.09-2027.09）

4）ZF，GF预研子课题，“微系统***技术”，国家级，结题

横向科研项目（主持）：

1）乾元国家实验室，“电子束调制辐射脉冲仿真建模”，在研（2026.03-2026.09）

2）中国科学院微电子研究所，“Geant4可执行程序开发”，结题

3）江苏省集成电路测试和可靠性工程研究中心，“先进制程存储器低剂量X射线辐射损伤机理研究”，结题

4）中电科58所，“Nor Flash裸片XPS测试表征”，结题

4、获奖情况及科研成果：

获奖情况：

1）西安交通大学优秀博士学位论文（2026）

2）陕西高等学校科学技术研究优秀成果奖（2025，排名2/9）

3）西安交通大学 优秀毕业生 (2024)

4）国家核电上海核工院奖学金 (2023)

5）西安交通大学 博士特等学业奖学金 (2022)

6）国家留学基金委奖学金（2022）

7）西安交通大学 优秀研究生（2022）

8）西安交通大学 优秀研究生干部 (2021)

9）西安交通大学 校友奖学金 (2020)

10） 西安交通大学 优秀研究生 (2019)

11） 西安交通大学 红五环奖学金 (2018)

12） 西安交通大学 优秀毕业生干部（2018）

代表论文（通讯作者加^*）：

（1）期刊论文（一作/共一）：

[1] 李洋，等. SZ0501 系统级封装的瞬时y辐射和电磁脉冲效应研究现状及展望. 太赫兹学报., 20260608.1916.002.

[2] Li Y, Peng Z, Guo Y, et al. Pulsed-Laser Testing to Evaluate Transient Dose Rate Effect on a Commercial-off-the-Shelf FPGA[J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2025, 72(6): 1927-1937.

[3] Li Y, Yoshida M, Gomi Y, et al. Experimental Study of Proton-Induced Radiation Effects on DDR5 Modules[J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2025, 72(6): 1907-1918.

[4] Li Y., et al. Modeling and Simulation of Transient Dose Rate Effects on Power Distribution Networks of System-in-Package[J]. Nuclear Engineering and Technology, 2025, 57(9): 103652.

[5] Li Y, Guo Y, Li J, et al. Transient Dose Rate Effect Between System-in-Package and Printed Circuit Boards: A Comparative Experimental Study[J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2023, 70(8): 2106–2115.

[6] Li J, Li Y(Co-first), Guo Y, et al. Investigation of Transient Dose-Rate Effect on High-Speed Comparator SB9696[J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2023, 70(7): 1459–1469.

[7] Li Y, Li J, Guo Y, et al. Experimental Study of Transient Dose Rate Effect on System-in-Package SZ0501[J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2022, 69(8): 1840–1849.

[8] Guo Y, Li Y(Co-first), Li J, et al. Experimental Study of Transient Dose Rate Effects of Two Level-Shifting Transceivers and Simulations on Their ESD Circuits[J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2022, 69(5): 1157–1166.

[9] Li Y, Guo Y, Liao W, Liu J, Peng Z, He C, Li Y, Li P. Pergamon, 2022. Simulation of transient dose rate effect on analog phase locked loop[J]. Microelectronics Reliability, 2022, 132: 114531.

[10] Li Y, Guo Y, He C, Liu J, Li Y, Li P. Elsevier Ltd, 2021. Simulation studies on the transient dose rate effect of analog delay locked loops[J]. Microelectronics Reliability, 2021, 121: 114149.

专利&软件著作权（获专利授权35项，登记软著3项）：

（1）贺朝会, 李洋, 郭亚鑫, 李永宏. 2020一种电子学系统总剂量效应的系统级仿真方法: 中国, 202011099076[P]. , 2020.

（2）贺朝会, 李洋, 李永宏, 赵浩昱. 2019一种基于ibis模型模拟系统级封装剂量率效应的方法: 中国, 201910704149[P]. , 2019.

（3）李俊霖, 李洋, 郭亚鑫, 贺朝会, 陈伟, 李瑞宾, 李维, 刘炜剑. 一种系统级封装瞬时剂量率效应的硬件测试系统及方法, 2024-3-27, 中国, 2024103600701.

（4）贺朝会, 卢溶, 李洋, 郭亚鑫, 李永宏, 李培, 何欢. 一种瞬时剂量率效应PI-SI的仿真方法、系统与设备, 2024-5-10, 中国, 2024105767121.

（5）贺朝会，罗广宇，李洋,  等．一种系统封装单粒子效应的故障注入方法及系统、系统与设备：2025104556429.

5、指导研究生和本科生情况：

1） 硕/博研究生：前期协助指导若干名，2026年开始独立指导；

2）本科生毕设： 2025（1名），2026（4名）；

3）本科项目设计：2025（2名），2026（6名）。

6、联系方式：

地址：西安交通大学，兴庆校区西一楼241、创新港校区4-4045

邮箱：yang.li@xjtu.edu.cn

电话：029-82663426（院办）